電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

　　環(huán)境可靠性測(cè)試項(xiàng)目,電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)國(guó)測(cè)航天.

　　GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

　　GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

　　電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

　　電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)

　　電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

　　Electromagnetic compatibility----Testing and measurement techniques Electrical fast transient/burst immunity test

　　GB/T17626.4-1999

　　Idt IEC 61000-4-4:1994

　　1 范圍

　　本標(biāo)準(zhǔn)目的是為評(píng)估電氣和電子的供電電源端口,信號(hào)和控制端口在受到重復(fù)性快速瞬變干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評(píng)定依據(jù).

　　本試驗(yàn)是為了驗(yàn)證電氣和電子設(shè)備對(duì)諸如來自切換瞬態(tài)過程的各種類型瞬變騷擾的抗擾度

　　2. 引用標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T4365-1995 電磁兼容術(shù)語

　　IEC68-1:1998 環(huán)境試驗(yàn) 第1部分 總則和導(dǎo)則

　　3. 概述

　　重復(fù)性快速瞬變?cè)囼?yàn)是一種將由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群耦合到電氣和電子設(shè)備的電源端口,信號(hào)和控制端口的試驗(yàn)

　　4 定義

　　4.1 EUT equipment under test

　　受試設(shè)備

　　4.2端口 port

　　受試設(shè)備的外部電磁環(huán)境的特殊接口

　　4.3 EFT/B electrical fast transient /burst

　　電快速瞬變脈沖群

　　4.4 耦合 coupling

　　線路間的相互作用,將能量從一個(gè)線路傳送到另一個(gè)線路

　　4.5 耦合網(wǎng)絡(luò) coupling network

　　用于將能量從一個(gè)線路傳送到另一個(gè)線路的電路

　　4.6 去耦網(wǎng)絡(luò) decoupling network

　　用于防止施加到受試設(shè)備上的電快速瞬變電壓影響其他不被試驗(yàn)的裝置,或系統(tǒng)的電路

　　4.7 耦合夾 coupling clamp

　　在與受試線路沒有任何電連接的情況下,以共模形式將干擾信號(hào)耦合到受試線路的.具有規(guī)定尺寸和特性的一種裝置

　　4.8 接地平面 ground plane

　　一塊導(dǎo)電平面,其電位用作公共參考電位

　　4.9 電磁兼容性 EMC

　　設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力

　　4.10 抗擾度 immunity (to disturbance)

　　裝置,設(shè)備或系統(tǒng)面臨電磁騷擾不降低運(yùn)行性能的能力

　　4.11 降低 degradation (of performance)

　　裝置,設(shè)備或系統(tǒng)的工作性能與正常性能的非期望偏差

　　4.12 瞬態(tài) transient

　　在兩相鄰穩(wěn)定狀態(tài)之間變化的物理量或物理現(xiàn)象,其變化時(shí)間小于所關(guān)注的時(shí)間尺度

　　4.13 上升時(shí)間 rise time

　　脈沖瞬時(shí)值首次達(dá)到10%峰值時(shí)與隨后達(dá)到90%峰值的瞬時(shí)之間的時(shí)間間隔

　　4.14 脈沖群 burst

　　一串?dāng)?shù)量有限的清晰脈沖或一個(gè)持續(xù)時(shí)間有的振蕩.

　　5 試驗(yàn)等級(jí)

　　表1中列出了對(duì)設(shè)備的供電電源,保護(hù)接地,信號(hào)的控制端口進(jìn)行電快速瞬變?cè)囼?yàn)時(shí)應(yīng)優(yōu)先采用的試驗(yàn)等級(jí)的范圍.

　　等級(jí) 在供電電源端口,保護(hù)接地 I/O信號(hào)數(shù)據(jù)和控制端口

　　電壓峰值KV 重復(fù)頻率KHZ 電壓峰值KV 重復(fù)頻率KHZ

　　1 05 5 0.25 5

　　2 1 5 0.5 5

　　3 2 5 1 5

　　4 4 2.5 2 5

　　* 特定 特定 特定 特定

　　6.試驗(yàn)設(shè)備

　　6.1試驗(yàn)發(fā)生器

　　試驗(yàn)發(fā)生器的主要元件:高壓源;充電電阻;儲(chǔ)能電容器;放電器;脈沖持續(xù)時(shí)間;成形電阻;

　　阻抗匹配電阻;隔直電容

　　6.1.1快速瞬變脈沖群發(fā)生器的性能和特性

　　開路輸出電壓范圍:0.25KV~4KV

　　在接50歐負(fù)載時(shí)的運(yùn)行特性:

　　最大能量:4mJ/脈沖

　　極性: 正負(fù)極性

　　輸出型式:同軸輸出

　　動(dòng)態(tài)源阻抗: 50歐

　　發(fā)生器的隔直電容:10nF

　　單個(gè)脈沖的上升時(shí)間:5ns

　　脈沖持續(xù)時(shí)間:50ns

　　脈沖群持續(xù)時(shí)間:15ms

　　脈沖群周期: 300ms

　　6.1.2 快速瞬變脈沖群發(fā)生器特性的校驗(yàn)

　　6.2 交/直流電源端口的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)

　　特性參數(shù):

　　頻率范圍:1MHZ~100MHZ

　　耦合電容:33nF

　　耦合衰減:<2dB

　　在不對(duì)稱條件下的去耦衰減:>20dbB

　　網(wǎng)絡(luò)中每條線路和其他線路之間的串?dāng)_衰減:>30dB

　　耦合電容的絕緣耐受能力:5KV

　　6.3 容性耦合夾

　　耦合夾能在與受試設(shè)備各端口的端子,電纜屏蔽層或受試設(shè)備的任何其他部分無任何電連接的情況下把快速瞬變脈沖群耦合到受試線路上

　　耦合夾的耦合電容取決于電纜的直徑,材料和屏蔽

　　該裝置由蓋住受試線路電纜的夾板組成,并且應(yīng)放置在面積最小為1m2的接地平面上,接地參考平面的周邊至少應(yīng)超出耦合夾0.1m

　　耦合夾的兩端應(yīng)具有高壓同軸接頭,其任一端均可與試驗(yàn)發(fā)生連接,發(fā)生器應(yīng)連接到耦合夾最接近受試設(shè)備的那一端.

　　7. 試驗(yàn)布置

　　7.1 試驗(yàn)設(shè)備

　　接地參考平面;耦合裝置;去耦網(wǎng)絡(luò);試驗(yàn)發(fā)生器

　　7.2 在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行型式試驗(yàn)的試驗(yàn)裝置

　　7.2.1 試驗(yàn)條件

　　受試設(shè)備應(yīng)該放在接地參考平面上,并用厚度為0.1m±0.01m的絕緣支座與之隔開

　　若受試設(shè)備為臺(tái)式設(shè)備,則受試設(shè)備應(yīng)放置在接地參考平面上方0.8m±0.08m處

　　接地參考平面應(yīng)為一塊厚度不小于0.25mm的金屬板,也可以使用其他的金屬材料,但它們的厚度至少應(yīng)為0.65mm

　　接地平面的最小尺寸為1m*1m,其實(shí)際尺寸取決于受試設(shè)備的尺寸

　　接地參考平面的各邊至少應(yīng)比受試設(shè)備超過0.1m

　　接地參考平面應(yīng)與保護(hù)地相連接

　　除了位于受試設(shè)備下方的接地參考平面外,受試設(shè)備和所有其他導(dǎo)電性結(jié)構(gòu)之間的最

　　小距離應(yīng)大于0.5m

　　應(yīng)使用耦合裝置施加試驗(yàn)電壓,試驗(yàn)電壓應(yīng)耦合到受試設(shè)備和去耦網(wǎng)絡(luò)之間的線路上

　　或與試驗(yàn)試驗(yàn)有關(guān)的兩個(gè)設(shè)備之間的線路上

　　在使用耦合夾時(shí),除了位于耦合夾和受試設(shè)備下方的接地平面外,耦合板和所有其他導(dǎo)

　　電性結(jié)構(gòu)之間的最小距離是0.5m

　　耦合裝置和受度設(shè)備之間的信號(hào)線和電源線的長(zhǎng)度應(yīng)不大于1m

　　7.2.2 把試驗(yàn)電壓耦合到受試設(shè)備的方法

　　通過耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)直接耦合電快速瞬變脈沖群騷擾電壓

　　通過容性耦合夾把騷擾試驗(yàn)電壓施加到I/O端口和通信端口

　　7.3 安裝后試驗(yàn)的試驗(yàn)配置

　　7.3.1 對(duì)供電電源端子和保護(hù)接地端子的試驗(yàn)

　　7.3.2 對(duì)I/O和通信端口的試驗(yàn)

　　8.試驗(yàn)程序

　　8.1試驗(yàn)室參考條件

　　8.1.1氣候條件

　　-------環(huán)境溫度: 15℃~35℃

　　-------相對(duì)濕度: 25%~75%

　　-------大氣壓力: 86Kpa~106Kpa

　　8.2.1 電磁條件

　　實(shí)驗(yàn)室的電磁條件應(yīng)能保證EUT正常運(yùn)行,使試驗(yàn)結(jié)果不受影響

　　8.2 試驗(yàn)

　　應(yīng)根據(jù)試驗(yàn)計(jì)劃進(jìn)行試驗(yàn),包括對(duì)技術(shù)規(guī)范所規(guī)定的受試設(shè)備性能的檢驗(yàn)

　　試驗(yàn)計(jì)劃應(yīng)該規(guī)定以下內(nèi)容:

　　將要進(jìn)行的試驗(yàn)的類型

　　試驗(yàn)等級(jí)

　　試驗(yàn)電壓的極性

　　內(nèi)部或外部發(fā)生器激勵(lì)

　　試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間,不少于1min

　　施加試驗(yàn)電壓的次數(shù)

　　待試驗(yàn)的受試設(shè)備端口

　　受試設(shè)備的典型工作條件

　　依次對(duì)受試設(shè)備各端口或?qū)ν瑢儆趦蓚€(gè)以上電路的電纜等施加試驗(yàn)電壓的順序

　　輔助設(shè)備

　　9 試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告